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精科紫外可見分光光度計760CRT
詳細(xì)信息| 詢價留言品牌:精科 加工定制:否 型號:760CRT 波長范圍:190nm~900nm nm 加工定制:否 型號:760CRT 精科紫外可見分光光度計760CRT精科紫外可見分光光度計760CRT,雙光束可見分光光度計,高分辨率可見分光光度計.
精科紫外可見分光光度計760CRT,是引進吸收日本島津公司先進技術(shù)基礎(chǔ)上推出的自動記錄分光光度計,軟件基于Windows98平臺,界面友好、美觀,操作簡單,通過打印機出圖文合一的分析報告,并可將圖譜數(shù)據(jù)或測試數(shù)據(jù)傳送Execl進行處理,可將圖譜貼至Word中發(fā)表,儀器具有波長掃描、時間掃描、定量分析、定波長測試、多波長測試等功能,優(yōu)異的性能,適合用于醫(yī)藥、藥學(xué)、生物化學(xué)、環(huán)境保護、化學(xué)工業(yè)等實驗室的日常分析和研究工作的需要.
紫外可見分光光度計760CRT的主要特點:
1. 采用全息閃耀光柵,雙光束C-T式光路結(jié)構(gòu),高分辨率,低雜散光,測光精度高,穩(wěn)定性能好。
2. 微機控制,自動記錄,打印機可在一張記錄紙上打印出光譜圖、測試數(shù)據(jù)及操作參數(shù)。
3. 光源自動轉(zhuǎn)換(可在294nm~364nm間任意設(shè)定)
4. 功能極強的光譜處理能力。
紫外可見分光光度計760CRT的軟件特點:
· 信息存貯容量大,保存方便。
· 軟件提供四個圖譜通道臨時貯存圖譜,可進行覆蓋和重疊方式的透過率、吸光度、吸收度對數(shù)和能量圖譜掃描,透過率和吸光度的圖譜可輕松地相互轉(zhuǎn)換,對圖譜可進行圖譜和圖譜、圖譜和系數(shù)的四則運算、導(dǎo)數(shù)運算。
· 圖譜的峰谷檢測、縮放輕松自如。
· 時間掃描可進行動力學(xué)研究。
· 定量分析提供了濃度線性回歸法、方法中提供了待定系數(shù)法和系數(shù)輸入法可進行曲線擬合及異常點剔除、2λ和3λ的測定,3λ提供了自動的波長設(shè)定并提供10組波長數(shù)據(jù)供用戶選擇使用。
· 軟件提供了定波長和多波長測試,并可對測試數(shù)據(jù)進行注釋,對同一樣品多用戶的測試提供了方便,多波長測試則可進行多達(dá)20個點波長的測試。
· 可輕松地將貯存圖譜的參數(shù)設(shè)置為儀器當(dāng)前測試條件。
· 打印機可進行參數(shù)與圖譜打印、參數(shù)與圖譜及數(shù)據(jù)打印、參數(shù)與數(shù)據(jù)打印和工作曲線的打印。
紫外可見分光光度計760CRT的技術(shù)指標(biāo):
● 測光方式:雙光束C-T式光路結(jié)構(gòu),全息閃耀光柵分光器,光電倍增管檢測。
● 波長范圍:190nm~900nm
● 分辯率:優(yōu)于0.15nm
● 光譜帶寬:0.08nm~5nm間隔0.01nm連續(xù)可調(diào)
● 波長*大允許誤差:±0.3nm(內(nèi)裝自動波長校正裝置)
● 波長重復(fù)性:0.2nm
● 雜散光:≤0.08%(T)(以NaI溶液在220nm處)
● 透射比*大允許誤差:±0.3% T(以NBS930D測定)
● 透射比重復(fù)性:0.2%(T)
● 掃描速度:快、中、慢
● 穩(wěn)定性:≤±0.004A/30min
● 噪聲:±0.3%(100%處) ±0.1%(0%處)
● 電源電壓:AC220V±22V 50Hz±1Hz
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